G652D光纖宏彎損耗測試方法的實踐及數據分析

·  2010年11月9日消息，光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。

　　而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環光纖代替100圈光纖進行試驗，在此情況下，繞的圈數環的半徑和最大允許的彎曲損耗都應該選的與30mm半徑100圈試驗的損耗值相適應。

　　大多光纖廠家都提供Φ60mm*100圈的判斷標準，然而，在日常的測試工作中，若要采用方便快捷的實驗方法，則傾向于按照注2中的建議去進行一些常規判斷。因此，掌握Φ32mm*1圈與Φ60mm*100圈的數據差異就十分有必要。

　　一、兩種宏彎損耗測試方法的比較

　　圖為 兩種宏彎損耗測試方法示意圖

　　用上述方法對10盤正常生產條件下的光纖樣品進行對比測試。

整體數據匯總圖形如下：

　　從整體數據匯總圖可看出Φ32mm*1宏彎測試方法所得數據的平均值和標準偏差都比Φ60mm*100的要小，且數據相對穩定，重復性好。當然所抽樣 品也不是完全都遵循此規律，10個樣品中有3個樣品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得數據的平均值大于Φ60mm*100所測得的；還有1個樣品在 1550nm、1625nm窗口下所得數據的標準偏差大于Φ60mm*100的。

　　10個樣品用兩種測試方法所得數據的平均值和標準偏差相差不大，處于一個數據等級內。Φ32mm*1的判斷標準應考慮的與60mm*100比較接近。

　　在測試過程中，Φ32mm*1宏彎測試方法易于操作，能減少測試誤差，根據GB/T9771.3-2008宏彎損耗的說明，認為Φ32mm*1宏彎測試方法可作為判斷光纖宏彎性能的一種簡便方法。

　　而Φ60mm*100作為標準明確規定一種方法，其準確性的提高需依賴于測試裝置的改良，如，保證光纖以盡可能一致的直徑、適宜的張力纏繞100圈。

　　二、宏彎與截止波長的關系

　　為更好的摸索宏彎損耗與截止波長的關系，隨機抽取760個樣品進行實驗，實驗數據如圖1、圖2：

圖1：1550nm宏彎損耗與截止波長分布

圖2：1625nm宏彎損耗與截止波長分布

　　由圖1可明顯看出1625nm的數據較1550nm窗口下宏彎損耗分散，實際數據證實長波長對彎曲的敏感程度更甚。

　　由圖2可看出1625nm宏彎損耗相對集中時對應的截止波長也相對集中分布在1210nm-1290nm，截止波長越小，宏彎損耗越大，且分布散亂無規律。

　　通過以上分析，可以看出截止波長對宏彎損耗有一定的影響，當截止波長分布在1210nm-1290nm范圍內時，1550nm、1625nm窗口下宏彎損耗相對集中，數據穩定，這為我們優化工藝改善宏彎損耗提供了有利的數據依據。

　　三、結論

　　1、Φ32mm*1宏彎測試方法可作為判斷光纖宏彎性能的一種簡便方法。

　　2、而Φ60mm*100作為標準明確規定的一種方法，其準確性的提高需依賴于測試裝置的改良。

　　3、大量實踐數據驗證了截止波長與宏彎損耗存在相關性。

    我的問題是：對于G652D光纖，是否也可以用Φ32mm*1圈，波長為1310nm，損耗＜0.1dB來判斷光纖宏彎性能呢？（回答：可以。）而對于 G657A1光纖，又應該是什么來判斷其宏彎性能呢？是否為Φ10mm*1圈，波長為1310nm，損耗＜0.05dB？（回答：損耗大小有待考察。但根 據2009-ITU-T標準，直徑為15mm，繞一圈，1550nm，最大損耗為0.5dB）。具體見博文《光纖類型》。

    有次為了辨別是G652D纖還是G657A1纖（為900um光纜），我的做法是：用Φ12mm*3圈，監控波長為1310nm，當損耗＞0.1dB時 （一般變化0.2~0.3dB），判斷為G652D纖；當損耗＜0.1dB時（一般變化在0.05dB內），判斷為G657A1纖。經過驗證，這樣判斷是 正確的。